MICROSCOPY AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES - THEORY
- Anno accademico
- 2025/2026 Programmi anni precedenti
- Titolo corso in inglese
- MICROSCOPY AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES - THEORY
- Codice insegnamento
- CM1408 (AF:578036 AR:324756)
- Lingua di insegnamento
- Inglese
- Modalità
- In presenza
- Crediti formativi universitari
- 9
- Livello laurea
- Laurea magistrale (DM270)
- Settore scientifico disciplinare
- CHIM/02
- Periodo
- II Semestre
- Anno corso
- 1
- Sede
- VENEZIA
Inquadramento dell'insegnamento nel percorso del corso di studio
metodologici atti alla caratterizzazione di materiali.
Obiettivi dell’insegnamento sono: fornire le conoscenze di base della cristallografia, della diffrazione a raggi-X, capire le caratteristiche e le potenzialità dei più moderni microscopi elettronici come strumenti per caratterizzare la struttura dei materiali. Il corso fornirà i fondamenti delle simmetrie dei solidi nelle due dimensioni per poi estendere i concetti al caso tridimensionale allo scopo di dare uno strumento quantitativo per la descrizione dei solidi cristallini. Queste conoscenze verrano poi utilizzate per l'interpretazione dei dati ottenuti tramite la diffrazione di Raggi-X. Il corso fornirà inoltre i fondamenti dell'ottica geometrica e successivamente le conoscenze necessarie alla comprensione del funzionamento di un microscopio elettronico. Alla fine del corso lo studente avrà le basi per ricavare dalle immagini ottenute con un microscopio elettronico le informazioni strutturali e morfologiche di interesse. Le parti pratiche (laboratorio ed esercizi saranno focalizzate principalmente sullo studio di nanoparticelle e materiali ibridi. Alla fine del corso lo studente avrà le basi per identificare le fasi cristalline presenti in qualsivoglia materiale, calcolare le dimensioni caratteristiche delle particelle, studiare nel dettaglio le modifiche strutturali a seguito di drogaggio dei materiali.
Risultati di apprendimento attesi
frontali, esercitazioni) e lo studio individuale
consentiranno agli studenti di raggiungere il seguente grado di conoscenza e comprensione:
1. acquisire i metodi principali per la classificazione dei solidi in base alle loro proprietà di simmetria;
2. apprendere le tecniche di diffrazione di raggi-X e di microscopia elettronica per lo studio e l'analisi di materiali anche nanostrutturati.
Lo studente acquisirà la capacità di applicare conoscenza e comprensione per lo studio di sistemi a dimensione nanometrica
correlando le proprietà dimensionali/strutturali con le proprietà macroscopiche.
La capacità di giudizio consisterà nel sapere applicare lo studio relativo alle proprietà del mondo a dimensione nanometrica in ambito tecnologico ed applicativo.
Prerequisiti
saranno necessari per poter frequentare in modo proficuo questo insegnamento.
Contenuti
Interazione fotoni-X materia, Strumentazione, tecniche di diffrazione: cristallo singolo e metodo delle polveri.
Applicazioni della diffrazione X nello studio dei materiali: equazione di Scherrer, metodo di Rietveld.
L'occhio umano: funzionamento e limiti
ottica geometrica: equazione delle lenti sottili, aberrazioni, sistemi multi-lente;
Microscopia ottica;
Ottica per elettroni: proprietà di una lente magnetica sottile, difetti delle lenti per elettroni;
Cannone elettronico: emissione termoionica, effetto Scottky ed emissione di campo;
cinematica dello scattering da parte di un nucleo atomico; scattering elettrone-elettrone; la dinamica dello scattering;
Transmission electron microscopy: tipologie di contrasto: contrasto da scattering, contrasto da diffrazione. Diffrazione elettronica; microscopia in campo chiaro e campo scuro; contrasto di fase. High resolution TEM. Tecniche di preparativa campioni.
Scanning electron microscopy: principi di funzionamento, elettroni secondari, elettroni retrodiffusi. Il SEM ambientale; preparativa campioni per SEM.
Microscopia elettronica analitica: microanalisi (EDX).
Testi di riferimento
Marc De Graef, Michael McHenry, Structure of Materials, Cambridge University Press, 2012.
Pecharsky Vitalij, Zavalij Peter, Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials,Springer. Berlin, 2008.
Fultz Brent, Howe James, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Springer 4th edition 2013.
Ray F. Egerton Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM, Springer Nature , 2nd edition, 2016
David B. Williams, C. Barry Carter, Springer; 2nd edition (2009).Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science.
Modalità di verifica dell'apprendimento
Modalità di esame
Graduazione dei voti
Metodi didattici
Altre informazioni
Accessibilità, Disabilità e Inclusione
Accomodamenti e Servizi di Supporto per studenti con disabilità o con disturbi specifici dell’apprendimento:
Ca’ Foscari applica la Legge Italiana (Legge 17/1999; Legge 170/2010) per i servizi di supporto e di accomodamento disponibili agli studenti con disabilità o con disturbi specifici dell’apprendimento. In caso di disabilità motoria, visiva, dell’udito o altre disabilità (Legge 17/1999) o un disturbo specifico dell’apprendimento (Legge 170/2010) e si necessita di supporto (assistenza in aula, ausili tecnologici per lo svolgimento di esami o esami individualizzati, materiale in formato accessibile, recupero appunti, tutorato specialistico a supporto dello studio, interpreti o altro), si contatti l’ufficio Disabilità e DSA disabilita@unive.it.
Obiettivi Agenda 2030 per lo sviluppo sostenibile
Questo insegnamento tratta argomenti connessi alla macroarea "Economia circolare, innovazione, lavoro" e concorre alla realizzazione dei relativi obiettivi ONU dell'Agenda 2030 per lo Sviluppo Sostenibile